Представлен метод улучшения атомно-силовой микроскопии

Научные сотрудники Института передовых наук и технологий имени Бекмана представили новый метод для улучшения атомно-силовой микроскопии.

Обычно атомно-силовая микроскопия используется для сканирования поверхностей материалов, чтобы получить изображение их высоты. При этом метод практически не способен легко определять молекулярный состав. Поэтому исследователи разработали новое устройство, которое может добавлять в коммерческие оптические микроскопы адаптивную коррекцию оптики. Предполагается, что усовершенствование технологии позволит углубить понимание специалистов о биологии. Кроме того, это поможет создавать более качественные и эффективные лекарственные препараты, а также разрабатывать новые методы лечения.

Эксперты также представили разработанные ими новые линзы, демонстрирующие, как легко устройство можно установить на объектив микроскопа.

загрузка...

Коротко

Показать все новости