Российские геофизики предложили метод подробного анализа образцов почвы, который поможет специалистам узнать больше о земле. Для этого ученые совместили высокочастотное травление с помощью ионной пушки, обнажающее внутренние структуры почвы, и сканирование поверхности с помощью электронной микроскопии.
Сегодня для развития сельского хозяйства крайне важно знать все особенности почвы. Именно для ее изучения сотрудники Института физики Земли имени Шмидта, Почвенного института имени Докучаева и Московского физико-технического института разработали совершенно новых метод внутреннего анализа почвы на наноуровне. Эксперты решили немного усовершенствовать используемое сегодня 3D-сканирование с помощью рентгеновской томографии. Так, они решили покрывать земли металлом и задействовать сканирующий электронный микроскоп.
В ходе эксперимента исследователи уже проверили свой метод и убедились в его эффективности.
